Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 - ISO 2178:1982
Đang chuẩn bị nút TẢI XUỐNG, xin hãy chờ
Tải xuống
Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 qui định phương pháp sử dụng các dụng cụ đo chiều dầy lớp phủ thuộc loại từ trong các phép đo không phá hủy cho việc đo chiều dầy lớp phủ không từ (gồm các lớp phủ thủy tinh, và men sứ) trên kim loại nền từ. | .