tailieunhanh - Handbook of algorithms for physical design automation part 80

Handbook of Algorithms for Physical Design Automation part 80 provides a detailed overview of VLSI physical design automation, emphasizing state-of-the-art techniques, trends and improvements that have emerged during the previous decade. After a brief introduction to the modern physical design problem, basic algorithmic techniques, and partitioning, the book discusses significant advances in floorplanning representations and describes recent formulations of the floorplanning problem. The text also addresses issues of placement, net layout and optimization, routing multiple signal nets, manufacturability, physical synthesis, special nets, and designing for specialized technologies. It includes a personal perspective from Ralph Otten as he looks back on. | 772 Handbook of Algorithms for Physical Design Automation FIGURE SEM picture showing a bridging fault on Metal 3. Note the row of vias on each metal line. Reprinted from Song . Neo . Loh . and Oh . International Symposium for Testing and Failure Analysis 2005. With permission. The yield ingredient Tbatch can be further classified based on either type of defect or of failure. A taxonomy of failure types is as follows Catastrophic yield loss. These are functional failures such as open or short circuits that cause the part to not work at all. Extra or missing material particle defects are the primary causes for such failures. Figure 2 shows a magnified view of a bridging fault. The yield loss due to such faults can be predicted by critical area analysis and this is discussed later in this chapter. Parametric yield loss. These failures occur when the chip is functionally correct but it fails to meet some power or performance criteria. Parametric failures are caused by variations in one or set of circuit parameters such that their specific distribution in a design causes it fall out of specifications. For example a part may function at a certain VDD value but not over entire required range of VDD. Another example of parametric yield loss is due to leakage in deep submicron technologies 3 where parametric failures may be caused by process variations. Some classes of integrated circuits may be speed-binned . grouped by performance a common example of this class of designs is microprocessors wherein lower performance parts are priced lower. Typical ASICs are an example of a class of circuits that cannot be speed-binned because they cannot be sold if their performance is below a certain threshold . due to compliance with standards . For these circuits there can be significant performance-limited yield loss and therefore they are designed with a large guardband. However even in case of speed-binned circuits yield loss is important because there .

• Vật lý
• Sổ tay thuật toán
• thiết kế vật lý tự động
• tổng quan chi tiết của VLSI
• tự động hóa
• tối ưu hóa
• định tuyến lưới nhiều tín hiệu
• tính sản xuất
• tổng hợp vật lý
• Sổ tay kỹ thuật
• giao trình
• thủy lợi
• Phó Đức Anh
• Cơ sở Kỹ thuật
• Toán học
• Sổ tay tính toán thủy lực
• Kĩ thuật công trình
• Khoa học xây dựng
• Xây dựng công trình
• tThi công công trình
• Công nghệ xây dựng
• Sổ tay kỹ thuật thủy lợi
• Công trình thủy lợi
• Hệ thống thủy lợi
• Quản lý thủy lợi
• Toán ứng dụng
• Cơ kết cấu
• Sổ tay công nghệ chế tạo máy
• Công nghệ chế tạo máy
• Kỹ thuật cơ khí
• Cơ khí chế tạo máy
• Chế độ cắt
• Tính toán chế độ cắt
• Kết cấu công trình
• Sổ tay thực hành Kết cấu công trình
• Vật liệu và thi công
• Dự toán các cấu kiện
• Kỹ thuật xây dựng
• Thực hành xây dựng
• Sổ tay công trình sư thi công
• Công trình sư thi công
• Tính nền móng
• Tính toán kết cấu gạch đá
• Chuẩn bị hiện trường thi công
• Phương pháp thoát nước
• Kĩ thuật gia cố nền
• tài liệu học môn toán
• sổ tay toán học
• từ điển toán học
• ngoại ngữ tiếng anh
• toán học tiếng anh
• thuật ngữ toán học
• từ điển anh văn
• phương pháp giải nhanh toán
• thủ thuật giải nhanh toán
• công thức toán học
• ôn thi toán học
• giáo trình toán học
• phương pháp dạy học toán
• Toán rời rạc
• toán
• rời rạc
• ôn tập toán
• bài tập toán
• ôn tập trắc nghiệm toán
• giải tích số
• Đề thi toán 10
• luyện thi toán
• kỹ thuật làm toán
• Kỹ thuật sử dụng
• bất đẳng thức
• đẳng thức cô si
• chuyên đề toán
• toán về hệ phương trình
• phương pháp giải toán
• học toán hiệu quả
• phương pháp trong tích phân
• kỹ thuật trong tích phân
• Tính năng nổi bật Android
• thế giới máy tính
• sử dụng windows 7
• sổ tay tin học
• thủ thuật máy tính
• mẹo sử dụng máy tính
• luyện thi đại học
• tự học môn toán
• đề thi toán học
• ma trận
• giải thuật
• hình học Fractal
• ánh xạ lân cận
• thuật toán ngẫu nhiên
• hình học Euclide