tailieunhanh - Công nghệ na nô

Là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Lần đầu tiên được phát triển vào năm 1942 gồm một súng phóng điện tử theo chiều từ dưới lên, ba thấu kính tĩnh điện và hệ thống các cuộn quét điện từ đặt giữa thấu kính thứ hai và thứ ba, và ghi nhận chùm điện tử thứ cấp bằng một ống nhân quang điện. Năm 1948, phát triển. | Công Nghê Na Nô Quan sát bề mặt vật liệu cấu trúc na nô Đồng văn Bình. Lê Văn Sao. Vũ Viết Tuấn. Nguyễn Đức Giang. Vũ Văn Hải. Nguyễn Minh Trí Nguyễn Đăng Quân Nguyễn Thiết Hiệu Vũ Văn Thanh. Nguyễn Văn Lợi Phạm Thành Đạt Nguyễn Văn Sơn Nguyễn Quang Thảo Danh sách thành viên nhóm 4 Kính hiển vi điện tử quét (Scanning Electron Microscope) SEM. Kính hiển vi điện tử truyền qua(Transmission Electron Microscopy) TEM Dụng cụ quan sát vật liệu cấu trúc Na Nô Kính Hiển Vi Điện Tử Quyét Scanning Electron Microscope SEM SEM Là Gì Là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Lần đầu tiên được phát triển vào năm 1942 gồm một súng phóng điện tử theo chiều từ dưới lên, ba thấu kính tĩnh điện và hệ thống các cuộn quét điện từ đặt giữa thấu kính thứ hai và thứ ba, và ghi nhận chùm điện tử thứ cấp bằng một ống nhân quang điện. Năm 1948, phát triển kính hiển vi điện tử quét . | Công Nghê Na Nô Quan sát bề mặt vật liệu cấu trúc na nô Đồng văn Bình. Lê Văn Sao. Vũ Viết Tuấn. Nguyễn Đức Giang. Vũ Văn Hải. Nguyễn Minh Trí Nguyễn Đăng Quân Nguyễn Thiết Hiệu Vũ Văn Thanh. Nguyễn Văn Lợi Phạm Thành Đạt Nguyễn Văn Sơn Nguyễn Quang Thảo Danh sách thành viên nhóm 4 Kính hiển vi điện tử quét (Scanning Electron Microscope) SEM. Kính hiển vi điện tử truyền qua(Transmission Electron Microscopy) TEM Dụng cụ quan sát vật liệu cấu trúc Na Nô Kính Hiển Vi Điện Tử Quyét Scanning Electron Microscope SEM SEM Là Gì Là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Lần đầu tiên được phát triển vào năm 1942 gồm một súng phóng điện tử theo chiều từ dưới lên, ba thấu kính tĩnh điện và hệ thống các cuộn quét điện từ đặt giữa thấu kính thứ hai và thứ ba, và ghi nhận chùm điện tử thứ cấp bằng một ống nhân quang điện. Năm 1948, phát triển kính hiển vi điện tử quét trên mô hình này với chùm điện tử hẹp có độ phân giải đến 500 Angstrom. Thiết bị kính hiển vi điện tử quét Jeol 5410 LV tại Trung tâm Khoa học Vật liệu, Đại học Quốc gia Hà Nội 1 Nguyên lý và cấu tạo Điện tử được phát từ súng phóng điện từ ,tăng tốc và hội tụ thành một chùm điện tử hẹp (cỡ vài trăm Angstrong đến vài nanomet) nhờ hệ thống thấu kính từ, sau đó quét trên bề mặt mẫu nhờ các cuộn quét tĩnh điện. Sơ đồ khối kính hiển vi điện tử quét Sự tạo ảnh Điện tử thứ cấp (Secondary electrons): Đây là chế độ ghi ảnh thông dụng nhất của kính hiển vi điện tử quét, chùm điện tử thứ cấp có năng lượng thấp (thường nhỏ hơn 50 eV) được ghi nhận bằng ống nhân quang nhấp nháy. Vì chúng có năng lượng thấp nên chủ yếu là các điện tử phát ra từ bề mặt mẫu với độ sâu chỉ vài nanomet, do vậy chúng tạo ra ảnh hai chiều của bề mặt mẫu. Điện tử tán xạ ngược (Backscattered electrons): Điện tử tán xạ ngược là chùm điện tử ban đầu khi tương tác với bề mặt mẫu bị bật ngược trở lại, do đó chúng thường có năng .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
crossorigin="anonymous">
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.