tailieunhanh - SCANNING PROBE MICROSCOPY ELECTRICAL AND ELECTROMECHANICAL PHENOMENA AT THE NANOSCALE Volume II

Progress in modern science is impossible without reliable tools for characterization of structural, physical, and chemical properties of materials and devices at the micro-, nano-, and atomic scale levels. While structural information can be obtained by such established techniques as scanning and transmission electron microscopy, high-resolution examination of local electronic structure, electric potential and chemical functionality is a much more daunting problem. | SCANNING PROBE MICROSCOPY Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale Sergei Kalinin Alexei Gruverman EDITORS VOLUME 1 Springer SCANNING PROBE MICROSCOPY SCANNING PROBE MICROSCOPY ELECTRICAL AND ELECTROMECHANICAL PHENOMENA AT THE NANOSCALE Volume II Sergei Kalinin Alexei Gruverman .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
crossorigin="anonymous">
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.