tailieunhanh - Bài giảng Chapter 5: Binary image analysis

Lecture with the content fast to compute, easy to store, simple processing techniques, can be very useful for constrained scenarios; hard to get “clean” silhouettes, noise is common in realistic scenarios, can be too coarse a representation, cannot deal with 3d changes | Binary Images Just two pixel values Foreground and background Regions of interest ROI 1 0 J I 1 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1 1 J 1 J 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 J 0 1 0 1 0 0 0 J 0 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 0 J 0 1 1 1 Department of Mechatronics r 5-3 Chapter 5 - Binary Image Uses Industrial Inspection Fig. 3 Schematic diagram of marking inspection setup at Texas Instruments Chips on conveyor for inspection Accept Reject Fit 7 jin ailed image 22ŨÍHFK AUCH1624Ơ Fie. 9 Row sum for Stranding J row Department of Mechatronics R. Nagarajan et al. A real time marking inspection scheme for semiconductor industries11 .

crossorigin="anonymous">
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.