tailieunhanh - Sử dụng hàm Gauss xác định bề rộng trung bình đường nhiễu xạ của mẫu thép được tôi cao tần

Có nhiều phương pháp có thể xác định bề rộng trung bình của đường nhiễu xạ như phương pháp bề rộng trung bình, phương pháp Gauss và phương pháp parabola. Tuy nhiên, phương pháp Gauss được xác định là có độ chính xác cao hơn các phương pháp khác và có thể tính được độ lặp lại hoặc độ tin cậy. Bài viết sẽ trình bày rõ hơn về vấn đề này. | 164 Kỹ thuật và Công nghệ SỬ DỤNG HÀM GAUSS XÁC ĐINH BỀ RỘNG TRUNG BÌNH ĐƯỜNG NHIỄU XẠ CỦA MẪU THÉP ĐƯỢC TÔI CAO TẦN USING GAUSSIAN FUNCTION IN ORDER TO DETERMINE FULL WIDTH AT HALF MAXIMUM OF DIFFRACTION LINES OF INDUCTED STEEL Dương Minh Hùng1 Tóm tắt Abstract Có nhiều phương pháp có thể xác định bề rộng trung bình của đường nhiễu xạ như phương pháp bề rộng trung bình, phương pháp Gauss và phương pháp parabola . Tuy nhiên, phương pháp Gauss được xác định là có độ chính xác cao hơn các phương pháp khác và có thể tính được độ lặp lại hoặc độ tin cậy. Bề rộng trung bình của đường nhiễu xạ có ý nghĩa rất lớn trong việc thiết lập các mối quan hệ với ứng suất dư, thời gian mỏi, tỉ lệ pha của vật liệu. Vì vậy, sử dụng phương pháp Gauss là điều cần thiết để xác định bề rộng trung bình của đường nhiễu xạ của các mẫu thép tôi cao tần. Many methods are being used in order to determine Full Width at Half Maximum of the diffraction lines as Full Width at Half Maximum method (calculated from three data points around the average position), Gaussian function and parabola method (interpolation from the experimental data by the corresponding curve). However, Gaussian function has been identified of higher accuracy and can determine the repeatability or reliability. Full Width at Half Maximum of the diffraction lines has great significance in establishing relationships with residual stress, fatigue period andrated phase of materials. Therefore, the use of Gaussian function is necessary to determine Full Width at Half Maximum of the diffraction lines of inducted steel. Từ khóa: bề rộng trung bình, phương pháp Gauss, nhiễu xạ, độ cứng, mẫu thép tôi cao tần. 1. Cơ sở lý thuyết1 Hàm mật độ xác suất ngẫu nhiên (Gauss) có công thức: 2 y = y0 + − ( x − xc ) 2ω 2 (1) Trong đó: xc là giá trị trung bình (mean) hàm Gauss, và ω là sai lệch chuẩn, cho thấy mức độ phân tán của hàm. y0 là giá trị bù thêm (khoảng cách điểm thấp nhất nội suy so với trục hoành) (Kurita 1993). Trường