tailieunhanh - Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 - ISO 2178:1982

Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 5878:2007 qui định phương pháp sử dụng các dụng cụ đo chiều dầy lớp phủ thuộc loại từ trong các phép đo không phá hủy cho việc đo chiều dầy lớp phủ không từ (gồm các lớp phủ thủy tinh, và men sứ) trên kim loại nền từ. | .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
crossorigin="anonymous">
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.