tailieunhanh - Bài giảng Giới thiệu kính hiển vi lực nguyên tử (AFM)

Bài giảng Giới thiệu kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) bao gồm những nội dung về kính hiển vi lực tĩnh điện, AFM Basics-Cantilever and photo detector, Tip Scanning AFM, Influence of tip geometry in imaging surface features,. Mời các bạn tham khảo. | Atomic Force Microscopy Introduction to Nanotechnology Giới thiệu kính hiển vi lực nguyên tử AFM Atomic Force Microscopy Introduction to Nanotechnology Tương tác điện từ mạnh hơn gấp 40 lần tương tác hấp dẫn Tương tác hấp dẫn van der Waals được gây ra bởi biến thiên trong chuyển động dipole điện của nguyên tử và phân cực lẫn nhau. Chúng tồn tại giữa các loại phân tử và nguyên tử và hiệu quả ở khoảng cách vài Ả đến vài trăm Ả. Lực giữa các nguyên tử r-7 giữa hai mặt r-3 giữa một hình cầu và một mặt phẳng r-2 Lực đẩy ở khoảng cách rất ngắn - Ả . F r-n ở đó n 8. Lực mao dẫn một lớp nước ngưng tụ trên bề mặt mẫu ở độ ẩm bình thường tip sẽ bị hút về phía mẫu bởi mặt lồi của giọt nước và bị dính trên mẫu. Đó là vấn đề quan trọng của ảnh AFM Lực từ Lực tĩnh điện Lực hoá học liên kết ion cộng hoá trị kim loại bị hút ở khoảng cách ngắn cỡ vài Ả Số nguyên tử của tip bị ảnh hưởng bởi phép đo phụ thuộc bản chất của tương tác Mội trường phải được chú ý khí lỏng rắn . Hằng số điện môi và lực vander walls bị ảnh hưởng bởi môi trường Quét là quá trình động học chẳng hạn như lực ma sát Mẫu không phải tinh thể rắn biến dạng tĩnh điện hay phục hồi nguyên tử Liên kết giữa tip và mẫu có thể dẫn đến sự sắp xếp lại tip và nguyên tử mẫu Atomic Force Microscopy Introduction to Nanotechnology .